GBT 5170.5-2016 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 第5部分：濕熱試驗(yàn)設(shè)備.pdf

GB/T5170.5-2016電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法第5部分∶濕熱試驗(yàn)設(shè)備

1  范圍

GB/T 5170的本部分規(guī)定了濕熱試驗(yàn)設(shè)備（以下簡稱“設(shè)備”）的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。

本部分適用于對(duì)GB/T 2423.3、GB/T 2423.4、GB/T 2423.16、GB/T 2423.50所用試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。本部分也適用于類似試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。

2  規(guī)范性引用文件

下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是不可少的。凡是注日期的引用文件，僅注日期的版本適用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本文件。

GB/T 2423.3 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)  第2部分∶試驗(yàn)方法  試驗(yàn)Cab∶恒定濕熱試驗(yàn)

GB/T 2423.4 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)  第2部分∶試驗(yàn)方法  試驗(yàn) Db  交變濕熱（12h+12h 循環(huán)）

GB/T 2423.16 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)  第2部分∶試驗(yàn)方法  試驗(yàn)J和導(dǎo)則∶長霉

GB/T 2423.50 環(huán)境試驗(yàn)  第2部分∶試驗(yàn)方法  試驗(yàn)Cy∶恒定濕熱 主要用于元件的加速試驗(yàn)

GB/T 2424.6 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)  溫度/濕度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)

GB/T 5170.1-2016 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 第1部分∶總則

GB 12348-2008 工業(yè)企業(yè)廠界環(huán)境噪聲排放標(biāo)準(zhǔn)